Новое оборудование и материалы

Растровые электронные микроскопы с полевой эмиссией от компании JEOL

Растровые электронные микроскопы с полевой эмиссией серии JSM-7100F от компании JEOL обеспечивают получение изображений с разрешением менее 1 нм, а также возможность проводить микроанализ с разрешением менее 100 нм. Данные характеристики были достигнуты за счёт комбинации большого тока электронного пучка с малым размером зонда при любых значениях ускоряющего напряжения.

Имеющая разумную цену модель JSM-7100F содержит термоэмиссионную пушку с катодом Шотки, способную облучать образец электронным пучком с током до 200 нА. Линза с регулируемым апертурным углом позволяет автоматически оптимизировать как диаметр пучка с малым током, для получения изображения высокого разрешения, так и диаметр пучка с большим током, для выполнения микроанализа с высоким разрешением; режим замедления пучка позволяет уменьшить зарядку непроводящих материалов, таких как керамика, полупроводники и полимеры.

Для получения высокого разрешения в микроскопе JSM-7100FT используются модернизированная гибридная линза и сквозные детекторы с фильтрацией энергий. Превосходная конструкция электронной оптики позволяет получать изображения наноструктур и деталей поверхностей с высоким разрешением для образцов из любых материалов, включая магнитные. Реализация ускорения и замедления электронного пучка в конструктиве линзы позволяет снизить искажения, проявляющиеся при низком ускоряющем напряжении, повышая тем самым разрешение микроскопа в этом режиме.

В микроскопах JSM-7100F и JSM-7100FT возможно использование режима низкого вакуума (давление от 10 до 300 Па), для управления которым используется интерфейс пользователя. Опционально микроскопы данных серий поставляются с камерой для образцов большого размера, где можно разместить широкий ряд различных детекторов и дополнительных аксессуаров.

Информация с сайта ostec-group.ru.