Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Компания Aqueous Technologies покажет тестер качества очистки C3 на выставке APEX 2008 - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Компания Aqueous Technologies покажет тестер качества очистки C3 на выставке APEX 2008 - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новости технологии » Компания Aqueous Technologies покажет тестер качества очистки C3 на выставке APEX 2008

Новости технологии

13 марта 2008

Компания Aqueous Technologies покажет тестер качества очистки C3 на выставке APEX 2008

Фото с сайта smtnet.com
 

Компания Aqueous Technologies Corp. сообщает, что она продемонстрирует тестер качества очистки C3 на стенде 2431 на приближающейся выставке/конференции APEX 2008, которая пройдет с 1 по 3 апреля 2008 года в Лас-Вегасе, США.

Устройство C3 — Critical Cleanliness Control — представляет собой ионный тестер качества очистки, разработанный компанией Forsite, одной из ведущих испытательных лабораторий, специализирующейся на определении параметров остатков в электронной промышленности. Компания Aqueous Technologies, один из лидеров в производстве автоматических систем удаления остатков флюсов и оборудования для контроля качества очистки для производства электроники, является эксклюзивным мировым дистрибьютором установки C3.

Установка C3 уникальна в сравнении с другими тестерами загрязнений, представленных на рынке. Это первый тестер, способный проводить исследование загрязнений на ограниченном участке печатного узла. Просматривая ограниченный участок размером 0,1 кв. дюйма (~0,065 дм²), ионный тестер C3 сразу же обеспечивает информацией, является ли этот участок «чистым» или «грязным» с точки зрения ионных загрязнений. Метод тестирования с применением ограниченных областей позволяет пользователю контролировать отдельные компоненты или области схемы, особенно чувствительные и склонные к проблемам функционирования.

С применением C3 можно быстро и эффективно определить наличие проводящих или вызывающих коррозию остатков. Система разработана для повышения эффективности и обеспечивает мгновенный доступ к информации о процессе, что не удается достичь с помощью контрольных лабораторий вне производства. Устройство указывает на проблемные области, требующие дальнейшего исследования, с помощью удобного в использовании сенсорного монитора. Если требуются дополнительные исследования, пользователи могут отослать собранные с помощью C3 образцы загрязнений для точного определения, какие именно загрязнения на них присутствуют.

Устройство C3 является единственным методом контроля наличия загрязнений, способным определить, где находятся загрязнения, каков уровень загрязненности и что загрязнения представляют собой. Устройство C3 собирает и сохраняет образцы обнаруженных загрязнений. Сохраненные образцы можно отослать в лабораторию Forsite для исследования с помощью ионной хроматографии (за отдельную плату).

Информация с сайта smtnet.com




Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2024.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства