Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
G-TAP — универсальное контактное устройство от компании GOEPEL electronic для тестирования электронных сборок - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
G-TAP — универсальное контактное устройство от компании GOEPEL electronic для тестирования электронных сборок - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новое оборудование и материалы » G-TAP — универсальное контактное устройство от компании GOEPEL electronic для тестирования электронных сборок

Новое оборудование и материалы

27 ноября 2012

G-TAP — универсальное контактное устройство от компании GOEPEL electronic для тестирования электронных сборок

Изображение с сайта www.globalsmt.net

Компания GOEPEL electronic представляет G-TAP — устройство универсального подключения к электронным сборкам, в особенности к шине JTAG, для тестирования и программирования. G-TAP — не одиночный продукт, а всеобъемлющая концепция: модуль можно применять как отдельно, так и в составе имеющихся электронных и оптических систем тестирования, например, в составе тестовых систем с летающими пробниками, систем внутрисхемного тестирования или систем АОИ.

«В разработке и производстве электронных сборок проблема обеспечения контакта хорошо известна, — говорит Мартин Боровски (Martin Borowski), технолог-эксперт подразделения периферийного сканирования компании GOEPEL electronic. — Сложный выбор между применением разъемов, или тестовых точек, или обоих методов теперь исключен. G-TAP является универсальным решением всех проблем, так как обеспечивает идеальное решение для всех существующих требований по обеспечению контакта».

При разработке G-TAP особое внимание было уделено возможности комбинирования нескольких методов тестирования. В дополнение к этому в устройстве применено встроенное решение, которое способно компенсировать погрешности позиционирования печатной платы до 1 мм путем автоматической коррекции. Это позволяет применять G-TAP в тестовых системах, изначально не предназначенных для контактирования при помощи щупов, коими являются, например, классические АОИ-системы.

На плате необходимо разместить специальную конфигурацию площадок для 11 сигналов: шины JTAG, напряжения питания и дополнительных сигналов, которые могут потребоваться. После этого становится возможным осуществлять электротестирование (периферийное сканирование, эмуляцию при помощи VarioTAP) и все задачи программирования (программирование встроенной и внешней флэш-памяти, FPGA/CPLD). Тестовые площадки выполняются в виде переходных отверстий, что позволяет подключаться как с нижней, так и с верхней стороны платы.

Концепция G-TAP зарегистрирована на получение патента.

По материалам www.globalsmt.net со ссылкой на www.goepel.com.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства