Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Пакет программного обеспечения автоматизированной характеризации ACS V5.0 пополнен программным обеспечением для тестирования полупроводниковых пластин - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Пакет программного обеспечения автоматизированной характеризации ACS V5.0 пополнен программным обеспечением для тестирования полупроводниковых пластин  - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новое оборудование и материалы » Пакет программного обеспечения автоматизированной характеризации ACS V5.0 пополнен программным обеспечением для тестирования полупроводниковых пластин

Новое оборудование и материалы

27 марта 2013

Пакет программного обеспечения автоматизированной характеризации ACS V5.0 пополнен программным обеспечением для тестирования полупроводниковых пластин

Изображение с сайта www.globalsmt.net

Keithley Instruments объявила о расширении пакета программного обеспечения для выполнения автоматизированной характеризации (Automated Characterization Suite, ACS). Пакет ACS теперь оптимизирован для задач автоматизированного тестирования параметров полупроводниковых пластин, включая автоматизированную характеризацию, анализ надежности и проверку годности кристаллов. Обновление ACS V5.0 повышает возможности высокомощных источников тока и напряжения компании Keithley, входящих в группу System SourceMeter® Source Measure Unit (SMU), — модели 2651A (источник высокого тока) и модели 2657A (источник высокого напряжения). Данные устройства позволяют выполнять автоматизированную проверку полупроводниковых пластин силовых полупроводниковых устройств, таких как силовые MOSFET, IGBT, BJT, диоды и т. п.

Улучшения ACS V5.0:

  • Библиотеки силовых устройств для применения с источником тока модели 2651A (до 50 А или 100 А, при соединении двух устройств) и источником напряжения модели 2657A (до 3000 В) — поддерживают тестирование многовыводных силовых компонентов в сочетании с источниками меньшей мощности серии 2600 B группы SourceMeter SMU или анализатором параметров модели 4200-SCS.
  • Управление источниками модели 2651A и 2657A (аппаратное сканирование, распознавание, конфигурация) — позволяет подключить эти устройства к ПК.
  • Поддержка инструментов серии 2600 SMU, оснащенных шиной TSP-Link®.
  • Набор образцовых проектов — как стартовая точка для создания собственных тестов.

Дополнительная информация.

По материалам www.globalsmt.net со ссылкой на www.keithley.com.





АКТАКОМ

Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
Веб-дизайн, создание и продвижение сайта
© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства