Новое оборудование и материалы

Бюджетное решение для борьбы с контрафактом

Изображения с сайта www.sovtest.ru

ООО «Совтест АТЕ» предлагает бюджетное решение для организации входного контроля методом ASA на предприятиях радиоэлектронной промышленности — локализатор неисправностей на компонентном уровне SFL (Sovtest Fault Locator). Технические особенности, универсальность и надежность данного оборудования обеспечивают эффективную отбраковку контрафактных электронных компонентов любых видов.

С повышением уровня сложности производимых изделий повышается и уровень ответственности каждого компонента РЭА в изделии. Особенно важна 100% исправность комплектующих при сборке ответственных узлов управляющих систем, когда повреждение какой-либо одной детали может повлечь за собой выход из строя других деталей, узлов, а возможно, и всего комплекса в целом.

Проблема контрафакта заключается в том, что никто не может гарантировать исправность компонента и точно определить, сколько он прослужит. Вкладывая средства в высококачественную продукцию зарекомендовавших себя производителей, потребитель рассчитывает на определенный положительный результат, однако иногда вместо заявленных радиоэлектронных компонентов, не подозревая об этом, получает более дешевый аналог китайского производства, т. е. контрафакт. Так ли он плох? Стоит задать лишь один вопрос: «Почему эти компоненты дешево стоят?», и ответ становится очевидным — вероятно, из-за того, что продукция не соответствует требованиям качества.

Пример эксплуатационного отказа летной техники за рубежом (причина отказа списана на поддельные микросхемы).

Универсальным методом для диагностики радиокомпонентов, в том числе и интегральных микросхем (ИМС), является аналого-сигнатурный анализ (ASA), принцип которого заключается в сравнении вольт-амперной характеристики тестируемого компонента с эталонной. Таким образом, метод ASA наглядно отображает состояние компонента, включая полупроводники.

Оборудование, в основу работы которого положен метод ASA, в России представлено в виде целого модельного ряда локализаторов неисправностей на компонентном уровне SFL. В отличие от большинства зарубежных аналогов данный прибор в полной мере соответствует производственным потребностям отечественных производителей, так как является результатом работы российских инженеров. Различное конструктивное исполнение и возможности локализаторов неисправностей SFL позволяют представить приборы в нескольких ценовых категориях.

Локализаторы неисправностей SFL (1500, 2500, 3000).

При тестировании компонентов РЭА до монтажа на плату для облегчения контактирования используется ZIF-колодка с «нулевым усилием». Возможно изготовление специализированной оснастки с учетом особенностей корпуса элемента. Сигнатуры являются уникальными для каждого типа логики ТТЛ или КМОП, но могут быть различны для ИМС разных производителей, а также разных партий. Поэтому, для подтверждения типа ИМС необходимо использовать в качестве эталона хотя бы одну заведомо годную микросхему из партии.

Для наглядного примера представляем сравнительные характеристики сигнатур двух интегральных микросхем: MAX 232 фирмы Texas Instruments, США (далее — Микросхема 1) и аналог китайского производства (далее — Микросхема 2). Последовательно на разных выводах зеленый график отображает сигнатуры Микросхемы 1, красный график — сигнатуры Микросхемы 2.

Оптимальным дополнением локализатора неисправностей SFL является стереоскопический микроскоп SMZ800 фирмы Nikon (Япония), реализующий функцию визуального контроля. Благодаря специальным опциям и поворотному столику с множеством степеней свободы оборудование позволяет исследовать образцы под различными углами и с разным увеличением. Эти возможности в сочетании с японским качеством обеспечили микроскопу SMZ800 высокую востребованность не только в России, но и на мировом рынке.

В результате, используя минимальный набор оборудования, обеспечивается эффективный входной контроль, сводящий к минимуму возможность попадания в производство контрафактных электронных компонентов. При этом вложения, необходимые для реализации данного проекта, в десятки (а в некоторых случаях и в сотни) раз меньше по сравнению с другими существующими решениями.

Стереоскопический микроскоп SMZ800. Модуль наклонного наблюдения. Пример изображения.

Для получения более подробной информации о решениях «Совтест АТЕ» для борьбы с контрафактными электронными компонентами можно прислать запрос на электронную почту info@sovtest.ru.

Информация с сайта www.sovtest.ru.