Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Обновление линейки решений компании Keithley для тестирования силовых полупроводниковых приборов - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Обновление линейки решений компании Keithley для тестирования силовых полупроводниковых приборов - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новое оборудование и материалы » Обновление линейки решений компании Keithley для тестирования силовых полупроводниковых приборов

Новое оборудование и материалы

24 мая 2013

Обновление линейки решений компании Keithley для тестирования силовых полупроводниковых приборов

Компания Keithley Instruments, Inc., мировой лидер в сфере производства электронных контрольно-измерительных приборов и систем, объявила о расширении своего пакета программ для автоматизированного измерения параметров (ACS), который дополняет ее растущее семейство решений для силовых полупроводниковых приборов. Пакет ACS оптимизирован для автоматизированных измерений на полупроводниковых пластинах, включая автоматическое измерение характеристик, анализ надежности и тестирование заведомо хороших кристаллов. Обновленная версия ACSV5.0 расширяет функции системных источников-измерителей SourceMeter® Keithley модели 2651A (большой ток) и модели 2657A (высокое напряжение), позволяя выполнять автоматизированное тестирование на уровне полупроводниковых пластин таких силовых полупроводниковых приборов, как силовые МОП транзисторы, биполярные транзисторы с изолированным затвором, биполярные транзисторы, диоды и т. п. Чтобы узнать больше, посетите эту страницу.

Версия ACSV5.0 включает целый ряд усовершенствований:

  • Библиотека силовых устройств для применения с системными источниками-измерителями SourceMeter® модели 2651A (до 50 A или до 100 A при подключении двух приборов) и модели 2657A (до 3000 В), которые поддерживают тестирование многовыводных силовых компонентов в сочетании с маломощными приборами SourceMeter серии 2600B или анализатором параметров полупроводниковых приборов 4200-SCS, для ускорения и упрощения создания сценариев тестирования силовых полупроводниковых приборов, таких как силовые МОП транзисторы, биполярные транзисторы с изолированным затвором, биполярные транзисторы, диоды и т. п.
  • Поддержка аппаратного сканирования, распознания и управления конфигурацией мощных моделей 2651A и 2657A, что позволяет пользователям быстро подключать эти приборы к ПК, устанавливать соединение и приступать к тестированию.
  • Поддержка источников-измерителей серии 2600, оборудованных интерфейсом TSP-Link®, которые используют технологию встроенного процессора сценариев испытаний (TSP®) для организации многопроцессорной среды, обеспечивающей высокую параллельную производительность, одновременно ускоряя и упрощая разработку тестов.
  • Примеры тестов, таких как высоковольтное тестирование надежности на уровне кремниевой пластины (WLR), которые опираются на широкий диапазон функций тестирования надежности маломощных устройств, предлагаемых в предшествующих версиях ACS, что дает пользователям превосходную отправную точку для быстрой модификации и создания новых тестов.
  • Поддержка измерения ВФХ в диапазоне ±200 В опцией силовых измерений модели 4200-CVU-PWRC-V для анализатора 4200-SCS, которая позволяет измерять ВАХ и ВФХ в широких пределах для наиболее полного определения характеристик силовых полупроводниковых компонентов.

О пакете ACS

Программный пакет ACS объединяет несколько приборов в единую измерительную систему, оптимизированную по гибкости, скорости и производительности тестирования и анализа. Его интуитивный графический интерфейс упрощает настройку измерительных приборов, выбор параметров измерения, выполнение измерений ВАХ и отображение результатов. Пользователи могут пройти весь путь от создания нового теста до измерения параметров новых устройств за малую часть того времени, которое они потратили бы, применяя старые методы разработки тестов. Не менее важно и то, что ACS предлагает все инструменты, необходимые для настройки теста, анализа данных и экспорта результатов, — не выходя из среды ACS. Пакет ACS предназначен для выполнения тестов с помощью полуавтоматических и полностью автоматических зондовых станций. Кроме того, компания Keithley предлагает программное обеспечение ACSBasicEdition для измерения параметров полупроводниковых приборов с помощью ручных пробников или тестовой оснастки.

Наличие

ACSV5.0 выпускается для работы с различными измерительными приборами Keithley и в разных конфигурациях. Пользователи предыдущих версий могут обратиться в представительство компании за рекомендациями по обновлению ACS.

Информация с сайта www.arttool.ru.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства