Новое оборудование и материалы

Определение содержания фосфора и толщины никелевого покрытия при помощи рентгеновской флюоресценции

Изображение с сайта www.globalsmt.net

Компания Fischer Technology объявляет: содержание фосфора и толщина никелевого покрытия (electroless nickel, NiP) теперь измеряется в один прием. Метод — рентгеновская флюоресценция (X-ray Fluorescence Instrumentation, XRF), реализованная компанией Fischer Technology в программно-аппаратном комплексе FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD.

Впервые эта возможность реализована для измерений в воздушной среде и вне зависимости от материала основания — AL, Fe, Cu или PCB.

Определение содержания фосфора и толщины никелевого покрытия необходимо, когда рассчитывается сопротивление коррозии и износу, прочность и паяемость печатных плат.

По материалам www.globalsmt.net со ссылкой на www.fischer-technology.com.