Новое оборудование и материалы

Беспрецедентная точность измерения – 1 (!) пм – с новым профилометром от фирмы Nikon Metrology

Изображения и логотип с сайта www.sovtest.ru

Специалистам Nikon Metrology удалось добиться беспрецедентной точности измерения в 1 пм, которая была реализована в новых сериях оптических профилометров BW-D50X и BW-A50X. Помимо этого уникального показателя, данное оборудование сочетает в себе лучшие характеристики промышленных микроскопов Nikon и передовые разработки в области оптических технологий.

Благодаря новым интерференционным объективам и собственному программному алгоритму Nikon для анализа изображений, разрешение по высоте в оптических профилометрах серий BW-D50X и BW-A50X может достигать 1 пикометра (1 пм = 0,001 нм = 0,000001 мкм = 0,000000001 мм). Сертифицированное значение разрешения составляет 8,9 нанометров. В одном измерительном режиме доступно измерение профиля поверхностей в диапазоне высот от субнано до миллиметра.

Оптический профилометр Nikon

Теперь оптические профилометры Nikon гарантируют еще более широкие возможности для анализа поверхностей и проведения измерений и обеспечивают высокую воспроизводимость и точность результатов в следующих областях применения:

• абразивы
• авиационная и космическая техника
• автомобилестроение
• энергетика
• микроэлектроника
• металлургия
• печатные платы
• бумажная промышленность
• полимеры
• кремниевые кристаллические пластины

Кремниевая полупроводниковая пластина

Отличительной особенностью серии BW-D50X является высокая скорость сканирования профиля. Время сканирования на глубину 10 мкм при разрешении до 0,1 мкм составляет всего 4 секунды. Преимущество серии BW-А50X – высокое разрешения получаемых снимков. При использовании 100 кратного интерференционного объектива разрешающая способность профилометра – 0,08 мкм. Современное программное обеспечение позволяет измерять такие величины, как среднее арифметическое отклонение профиля – Ra, высоту неровностей профиля по десяти точкам – Rz, среднее квадратическое отклонение профиля – Rq, шаг неровностей профиля (Sz, Sq, Sa).

Синтетический алмаз

Информация с сайта www.sovtest.ru