Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Паяльная паста Indium8.9HF1-P обеспечивает высокий выход годных с первого предъявления при внутрисхемном тестировании - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Паяльная паста Indium8.9HF1-P обеспечивает высокий выход годных с первого предъявления при внутрисхемном тестировании - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новое оборудование и материалы » Паяльная паста Indium8.9HF1-P обеспечивает высокий выход годных с первого предъявления при внутрисхемном тестировании

Новое оборудование и материалы

10 декабря 2013

Паяльная паста Indium8.9HF1-P обеспечивает высокий выход годных с первого предъявления при внутрисхемном тестировании

Изображение с сайта www.indium.com

Компания Indium Corporation представляет новую бессвинцовую паяльную пасту, сочетающую высокие технические характеристики при трафаретной печати (посредством безгалогенной технологии защиты от окисления пасты) и оптимизированный состав остатков, обеспечивающий более качественное тестирование при помощи пробников. Паяльная паста Indium8.9HF1-P экономит время и средства при тестировании печатных узлов, исключая ложные определения отказов и обеспечивая тем самым высокий выход годных с первого предъявления при внутрисхемном тестировании.

Паяльная паста Indium8.9HF1-P обеспечивает высокую эффективность процесса переноса на платы и устойчивые показатели при печати даже на высоких скоростях. Кроме того, данная паста обладает хорошим показателем отклика при паузах между процедурами печати, что сокращает необходимость частой протирки нижней части трафарета. Паяльная паста Indium8.9HF1-P обеспечивает получение качественных отпечатков при отношении размера апертур к толщине трафарета менее 0,5 без необходимости обеспечения повышенного давления на ракель при печати. Технология защиты от окисления исключает появление таких дефектов как «голова на подушке».

Показатели пригодности к контактному тестированию пробниками обеспечиваются тем, что после оплавления остатки флюса мягкие и не мешают прохождению через них пробников, и данное свойство сохраняется после проведения нескольких процедур оплавления, при наличии временного периода между процедурами оплавления и тестирования.

По материалам www.indium.com.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства