Новое оборудование и материалы

Автоматизированное аккустическое сканирование компонентов: еще гибче, еще быстрее

Изображение с сайта www.globalsmt.net

Компания Sonoscan® начала поставки новой модели аккустических микроскопов DF2400™ линейки FACTS2™ с системой сканирования компонентов в поддонах C-SAM®.

Система DF2400 позволяет инспектировать микросхемы и кристаллы flip chip прямо в поддонах JEDEC или в металлических держателях. Также система позволяет инспектировать ленты рамок выводов, силовые модули IGBT и другие компоненты.

Производительность удвоена благодаря внедрению двух преобразователей и двух платформ, посредством которых производится одновременное сканирование. Эти платформы укомплектованы специальными зонами сушки, которые позволяют начать новое сканирования сразу по окончании предыдущего. Производительность может быть повышена по меньшей мере в 7 раз по сравнению с производительностью предыдущих установок путем оптимизированного сканирования только критических областей образцов.

Два сканера благодаря приводу из инерционно сбалансированных линейных двигателей работают в условиях сниженной вибрации и достигают точности ±0,5 мкм. Эти двигатели перемещают преобразователи, разработанные и произведенные компанией Sonoscan, от края до края поддона для достижения максимально возможной скорости захвата изображения.

И в автоматическом режиме, и в режиме анализа установка DF2400 способна выполнять исследование и в режиме отражения, и в режиме сквозного исследования Thru-Scan™. В установке реализована проприетарная технология компании Sonoscan, требующая минимального погружения исследуемого образца в воду. Кроме того, установка способна постоянно управлять качеством воды.

Система работает под управлением ПО Sonolytics™ и содержит такие инструменты, как, например, PolyGate™, который позволяет получать аккустические изображения до 100 срезов в глубину за один цикл сканирования.

По материалам www.globalsmt.net с ссылкой на www.sonoscan.com.