Новое оборудование и материалы
17 января 2014
Расширение возможностей системы параметрических испытаний Keithley S530 благодаря обновлению программного обеспечения
Изображение с сайта www.keithley.com
Компания Keithley Instruments представила новейшие обновления ПО своей популярной системы параметрических испытаний полупроводников S530.
Обновления:
- Инструмент диагностики и верификации системы. Новый инструмент с графическим пользовательским интерфейсом расширяет диагностическое покрытие всей аппаратуры, обеспечивая повышенную уверенность в правильности работы системы. Будучи запущенным пользователем, данный инструмент позволяет убедиться, что все параметры системы S530 находятся в рамках опубликованных спецификаций. Инструмент диагностики и верификации системы в результате работы генерирует подробные файлы отчетов, что упрощает обмен информацией с сервисной службой компании Keithley и позволяет отслеживать в системе тенденции, влияющие на ее работоспособность.
- Возможности расширения испытаний. Данное обновление включает набор новых возможностей измерений и обеспечивает дополнительную гибкость рабочих условий испытанй Keithley Test Environment (KTE). Управляющие команды, применяемые в библиотеке линейных параметрических испытаний (linear parametric test library, LPTLIB) и библиотеке параметрических испытаний (parametric test library, PARLIB) построены на основе 30-летнего практического опыта компании Keithley в разработке программ для параметрических испытаний. Новое управляющее ПО KTE V5.5 систем параметрических испытаний S530 позволяет выполнить все вольт-амперные и вольт-фарадные измерения, требуемые при наблюдении за ходом техпроцесса, оценке надежности техпроцесса и при характеризации устройств.
По материалам www.emsnow.com.
|
