Компания XYZTEC представила нововведения для установок тестирования на отрыв
Занимая лидирующую позицию в области технологий тестирования прочности, специалисты компании XYZTEC постоянно стремятся улучшить и расширить возможности своих установок. Последними нововведениями, представленными фирмой XYZTEC в третьем квартале 2016 года, являются новый рабочий столик для установки модели W12 и новая оснастка для тестирований на отрыв изделий с крышкой. подробнее
27 октября 2016
Осциллографы высокого разрешения АКИП-4122/12
Обновленная серия осциллографов АКИП-4122, анонсированная в мае этого года, получила логическое развитие. Новая модель, АКИП-4122/12, расширяет частотные возможности моделей с АЦП 12 бит до 200 МГц, увеличивая тем самым прикладные измерительные возможности данного осциллографа в 2 раза. подробнее
«Умный» транспортный модуль от компании ASM
Платформа SIPLACE SX является наиболее популярной для крупносерийных производств со смешанным ассортиментом продукции. Инженеры ASM расширили возможности платформы еще дальше, позволив с ее помощью осуществлять сборку плат длиной до 1500 мм. подробнее
Заготовки VectorGuard FineGrain для трафаретов с апертурами с малым шагом от компании ASM
По мере того как компоненты становятся все меньше и разнообразнее, растет важность соотношения между апертурами и толщиной трафарета (отношение площадей). Благодаря заготовкам VectorGuard FineGrain компания ASM предоставляет производителям трафаретов высокотехнологичные заготовки из нержавеющей стали, которые позволяют выполнить данные требования. подробнее
Оптические профилометры серии BW японской фирмы Nikon
В зависимости от решаемых задач за основу профилометра может быть взят один из трех типов микроскопов: измерительный микроскоп серии MM, микроскоп для контроля качества пластин и фотошаблонов L200/L300 или исследовательский микроскоп серии LV. Таким образом, BW-S50X и BW-D50X – это не только профилометры, но и высококлассные микроскопы, позволяющие решать задачи измерений, контроля или исследований. подробнее