Измерительные системы для прогрессивных методов компоновки полупроводников Компания Rudolph Technologies анонсировала измерительные системы новой серии NSX, включающей несколько конфигураций для решения определенных задач компоновки на уровне полупроводниковых пластин, 2,5D (промежуточная подложка) и 3D (трехмерная компоновка с TSV). Конфигурации строятся на основе автоматизированной системы инспекции макродефектов NSX® 320 Automated Macro Defect Inspection System.
24 июля 2013
Испытания МЭМС в условиях серийного производства Компания Silicon Microstructures представила решение, позволяющее проводить параллельные баро-, термоиспытания и калибровку сразу 32 МЭМС, размещенных в поддонах.
24 июля 2013
Count On Tools анонсирует прогресс в 2D-штрихкодах для Fuji NXT Компания Count On Tools (COT) объявляет, что улучшила качество маркировки насадок для автоматов установки компонентов Fuji NXT. Благодаря сотрудничеству с производителем прогрессивной системы маркировки компания COT теперь на каждую насадку наносит двухмерный матричный код и цветовой матричный код (OEM) для легкой идентификации насадок оператором и ПО автомата.
Дозатор NCM5000 от компании GPD Global Компания GPD Global представила новый дозатор NCM5000. В контакт с дозируемым материалом входят только две составные части дозатора (гибкая диафрагма и сопла). Конструкция дозатора не содержит затворов и пружин, которые необходимо заменять или настраивать, поэтому пользоваться дозатором очень легко.
22 июля 2013
Программная платформа для испытаний и проверки 4-го поколения процессоров Intel® Core™ Компания TX – GOEPEL electronic анонсирует скорую поддержку 4-го поколения процессоров Intel® Core™ (Haswell) в ПО SYSTEM CASCON™, что позволит проводить проверку корректности работы и выполнять тесты сложных плат, содержащих процессоры Haswell от компании Intel.
22 июля 2013
Управляющее ПО обеспечения постоянства перемещений Компания Nordson ASYMTEK разработала управляющее ПО обеспечения постоянства перемещений (Continuous Path Motion Control) для нанесения подзаливки при монтаже кристаллов по технологии flip chip.
Лучшие технологии – Лучшая оптика 15 Мп – Фантастическая цена
Уникальное предложение для всех заказчиков компании Новые Технологии!
Использование систем автоматической 3D проверки нанесения паяльной пасты в условиях серийного производства электроники позволяет добиться перехода к высочайшему уровню качества продукции, сократить время простоя производственной линии, затраты на ремонт и, в конечном итоге, получить большую прибыль. Компания Новые Технологии предлагает новую встраиваемую в производственную линию оптическую систему Mirtec MS-15 по специальной доступной цене.
Новые жала для паяльников от компании JBC Компания JBC в ответ на запросы клиентов выпускает новые жала для паяльников. Жала от компании JBC хорошо проводят тепло к месту пайки, надежны и обладают малым временем прогрева.
Новый питатель для маркировочных этикеток на автоматах Samsung Techwin Использование нового питателя для автоматов Samsung не требует закупки отдельного дорогостоящего оборудования и отладки еще одного технологического процесса. При переходе на новое изделие достаточно просто поменять питатель или катушку.
Тестер паяемости LBT-210 Тестер паяемости LBT-210 от компании Microtronic позволяет проводить испытания двумя классическими способами — с ванной припоя или с расплавленной каплей припоя. Однако большей важностью в повышении качества производства обладает новый реализованный метод, основанный на применении паяльной пасты и температурного профиля.
Измерительные системы для прогрессивных методов компоновки полупроводников
Испытания МЭМС в условиях серийного производства
Count On Tools анонсирует прогресс в 2D-штрихкодах для Fuji NXT
SIPLACE Facts: Программное обеспечение SIPLACE для управления производствами электроники и контроля над количеством материалов 
Дозатор NCM5000 от компании GPD Global
Программная платформа для испытаний и проверки 4-го поколения процессоров Intel® Core™
Управляющее ПО обеспечения постоянства перемещений
Fluke Calibration представляет новый усилитель тока Fluke 52120А
Портативный RLC-метр эконом-класса Актаком АММ-3143
Высокотемпературный инфракрасный термометр Fluke 572-2
Лучшие технологии – Лучшая оптика 15 Мп – Фантастическая цена
Новая версия платы ввода R&S®EXBOX-B85 для тестирования протокола CPRI
Новости анализаторов качества электроэнергии Fluke 430 II
Новые жала для паяльников от компании JBC
Установка плазменной обработки поверхностей MultiJet-100 
Новый питатель для маркировочных этикеток на автоматах Samsung Techwin
Мультиплексор с опцией восстановления предыскаженного сигнала 
Отверждаемое светодиодным светом покрытие для медицинской электроники
Тестер паяемости LBT-210