Новости САПР

Рассчитать покрытие платы JTAG-тестом стало возможно прямо в Altium Designer

Компания JTAG Technologies, ведущий эксперт в области периферийного сканирования, сообщает о совместном с Altium создании программного продукта: JTAG Maps.

Огромное количество разрабатываемых сегодня устройств поддерживает технологию периферийного сканирования, что позволяет их тестировать, диагностировать дефекты сборки и брак компонентов, выявлять контрафактную ЭКБ, программировать ПЗУ и микроконтроллеры и проводить отладку опытных образцов. JTAG Maps – это простое дополнение к среде Altium Designer, позволяющее тщательно рассчитать JTAG-покрытие разрабатываемой схемы еще до момента трассировки печатной платы.

До недавнего времени автоматический расчет тестового покрытия мог быть произведен только с помощью профессиональных программных средств периферийного сканирования. Если инженер-разработчик хотел отметить на схеме цепи, к которым есть доступ периферийного сканирования, то это приходилось делать вручную. Сегодня бесплатное дополнение к Altium, JTAG Maps, наконец, позволяет автоматизировать этот процесс. Расчет тестового покрытия будущих изделий стал в разы более доступным.

При создании тестов периферийного сканирования необходимыми данными являются так называемые BSDL-файлы. Только они точно описывают,  какие выводы ИМС имеют тестовый доступ, а также их возможные варианты использования. Но на этапе разработки возможна такая ситуация, когда у инженера нет в наличии BSDL-файлов. С JTAG Maps эта проблема не страшна: в программе предусмотрена возможность установки специального атрибута «Assume Scan Covered» для пинов. Это атрибут предполагает, что выводы компонента имеют возможность периферийного сканирования. Эта установка может также использоваться для других узлов изделия. С помощью данного атрибута, например, можно указать программе на пины разъемов, которые могут тестироваться за счет внешних DIOS-модулей.

JTAG Maps автоматически распознает JTAG-цепочки, вне зависимости от того, сколько в них компонентов с поддержкой периферийного сканирования, и сколько этих цепочек на исследуемой плате. Цепи TAP-сигналов (JTAG-интерфейса) будут подсвечены цветом, отличным от цепей, тестируемых периферийным сканированием.

Несмотря на то, что большое число пользователей будут удовлетворены быстрым и упрощенным отчетом, который обеспечивает JTAG Maps, существует возможность увидеть более подробную картину тестового покрытия. Из JTAG Maps может быть экспортирован специальный файл, который затем можно отправить в техническое представительство JTAG Technologies, где он будет обработан и по результатам анализа вам будет предоставлен файл с более точным и подробным покрытием, отражающий все возможные тесты.

Для инженеров, которые пожелают в дальнейшем применить периферийное сканирование на своих изделиях, JTAG Technologies предоставляет 2 базовых варианта платформ. JTAG Live Studio является бюджетной платформой, позволяющей создавать функциональные тесты узлов цифровых ПП с использованием периферийного сканирования. JTAG ProVision – полностью автоматизированная САПР для генерации тестов и приложений для программирования ПЗУ и ПЛИС с обширными библиотеками моделей ЭКБ.

Программа JTAG Maps доступна на сайте компании Altium.

Информация предоставлена компанией JTAG Technologies www.jtagtechnologies.ru