Новости российского рынка

ЗАО Предприятие Остек совместно с компанией JTAG Technologies проведёт однодневный семинар «Методы структурного и функционального тестирования с использованием средств периферийного сканирования JТAG и их сочетании с другими способами электрического контроля»

Логотипы предоставлены ЗАО Предприятие Остек и компанией JTAG Technologies

15 сентября 2010 года ЗАО Предприятие Остек совместно с компанией JTAG Technologies проведёт однодневный семинар «Методы структурного и функционального тестирования с использованием средств периферийного сканирования JТAG и их сочетании с другими способами электрического контроля».

Основное тематическое направление семинара – показать возможности и преимущества различных методов электрического контроля и их комбинаций в процессе разработки и производства электроники.

Будут рассмотрены принципы работы основных методов электрического контроля – внутрисхемное и функциональное тестирование как с использованием периферийного сканирования JTAG, так и совместно с другими способами электрического контроля.

Подробнее о семинаре и регистрации – в разделе События портала ЭЛИНФОРМ.

Информация с сайта ostec-group.ru.