Новости российского рынка

ЗАО Предприятие Остек совместно с компанией JTAG Technologies проводит семинар «Электрическое тестирование и технология JTAG. Практические аспекты проектирования, выбор оборудования»

Фото и логотипы с сайта ostec-group.ru

17 мая 2011 года ЗАО Предприятие Остек совместно с компанией JTAG Technologies проводит семинар «Электрическое тестирование и технология JTAG. Практические аспекты проектирования, выбор оборудования».

Диагностика современных цифровых изделий с использованием стандартных измерительных приборов уже давно потеряла требуемую эффективность, приводя к потере времени на поиск и локализацию дефектов, что существенно повышает стоимость ремонтных операций и затягивает сроки поставок готовой продукции. Современные средства автоматизированного контроля позволяют сократить время на поиск и локализацию дефектов, но при этом необходимо искать новые подходы к проектированию изделий. Все чаще на первый план проектирования выходит оценка тестового покрытие. Такой подход позволяет контролировать максимальное количество цепей и компонентов без необходимости «ручного» создания специализированных тестов функционального контроля.

Еще в начале 90-х годов был разработан метод периферийного (граничного) сканирования для изделий на базе ПЛИС, процессоров и микроконтроллеров. Автоматизированные средства генерации тестовых последовательностей для периферийного сканирования совершенствуются и в настоящее время. Сегодня всю основную работу «машина» делает сама: не нужно открывать учебники и изучать стандарты периферийного сканирования, работу JTAG-интерфейса, вручную писать тестовые программы.

Более подробная информация – в разделе «События» портала Элинформ.

Информация с сайта ostec-group.ru.